• 电容器高温试验设备
• 电容器老化（通用型）
• 电容器老化（专用型）

• 高温反偏 试验系统
• 高温反偏（通用型）
• 高温反偏（专用型）
• 高温高湿（H3TRB）
• 高加速寿命试验（HAST）

• 分立器件 试验设备
• 综合老化（多功能）
• 间歇寿命试验（IOL）
• 整流二极管
• 稳压二极管
• 大功率（水冷/风冷）

• 集成电路 试验设备
• 集成电路（通用型）
• 集成电路（专用型）

• 电源模块 三端稳压器
• 电源模块（能量消耗型）
• 电源模块（能量反馈型）
• 三端稳压器

• IGBT模块 试验设备
• 功率循环(Power Cycling)
• 高温反偏/栅偏（HTRB / HTGB）

• 激光二极管光通讯模块
• 光通讯器件/模块

• 电磁继电器固态继电器
• 继电器高温老化系统

• 微波器件 老化试验
• 微波二极管
• 微波功率器件直流老化
• 微波功率器件射频老化
• 微波组件射频老化

• 晶体振荡器 电阻器
• 电阻器/石英振荡器

• 三温自动化 测试系统
• 高低温测试系统
• 668A (高温阻断系统)
• 测试仪

• 高可靠程控 试验电源
• 迪派大功率直流电源

• 配件系列
• 老化测试座
• 老化板
• 夹具/治具
• 连接器

• 半导体分立器件可靠性试验
• MOSFET可靠性试验
• 三极管可靠性解决方案
• 电子产品为什么要老化

• IGBT行业可靠性解决方案
• IGBT器件可靠性解决方案

• 第三代半导体可靠性解决方案
• 氮化镓GaN
• 碳化硅SiC

• IPM器件可靠性试验方案
• IPM器件

• IC芯片可靠性试验解决方案
• 设计验证

• 第三方实验室整体筹建解决方案
• 第三方实验室整体筹建解决方案

• 老炼行业数字化智能物联平台
• 高可靠智能物联平台