0571-85123400
中安
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BTI-T3000(16通道)
集成电路高温动态老化系统--基础款

适用于各种封装形式的模拟、数字、数模混合集成电路,包括存储器、超大规模集成电路等

IC器件的高温动态老炼筛选和寿命试验。


 高温试验箱

R.T.~150℃

 容量

16通道

 Pattern  Generator

(数字信号)

Test Rate:20Mhz

I/O channel ( 单通道 ):64路(DRV.)

Vector Memory(向量深度):8Mbit(per pin)

Driver Vih/Vil:+2V~+15V / ≤0.7V

Tr/Tf:≤10ns

Driver Current:±100mA

 Analog function generator(模拟信号)

TYPE:正弦波、矩形波、三角波、前后锯齿波

Channel:4路

Rate:10hz~1Mhz

Vp-p:±1V~±10V( ≤100Khz );±1V~±5V ( 100KHz~1MHz )

Vbias:0~±1/2VPP( |偏移量+峰值(谷值)| ≤15V )

Driver Current:1A

Monitor channel

64ch ( DC + Freq ) , Voh≤15V / Vol≤15V

 DPS(二级电源)

3ch per BIB;+2V~+18V/10A x2ch,-2V~-18V/10A

 其他信息

BIB板尺寸:280mm*598mm


电网要求:AC 380V/50Hz


试验标准
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