0571-85123400
中安
中安
BTI-E3000AT(16通道)
集成电路高温动态老化系统--标准款

适用于各种封装形式的模拟、数字、数模混合集成电路,包括存储器、超大规模集成电路等

IC器件的高温动态老炼筛选和寿命试验。

试验标准
产品特点
产品参数
高温试验箱
型号
广五所 或 ESPEC PH-201
试验腔尺寸
600*600*600(mm)
风道设计
水平横向循环风道设计
试验温度范围
室温~175℃
温度均匀性
125℃±3℃(空载); 试验温度波动度:±0.5℃
容量
独立试验区数量
16个区(单板单区)
试验通道
16个
单板工位数 / 总容量
208工位 / 3328工位(以DIP14为例)
试验电源
试验电源数量
8~16台
试验电源量程
±30V / 40A
驱动检测板
驱动板数量
16块
Vcc / Vmux / Vclk
2.00V~18.00V / 10A
Vee
-2.00V~-18.00V / 10A
纹波 (有效值)
<10mV
模拟信号(4路)
100KHz, 0V~ ± 10.0V / 1.0A
数字信号(64路)
10MHz / 8M向量
回检信号
频率、幅度
寻址能力
64G bits
老化板
基板材质
标配高Tg基板
耐温范围
150℃ / 175℃ 可选
老化板尺寸
280*600(mm)
整机信息
尺寸
1430W*1400D*2000H(mm)
电网要求
A.C.220V±10% / 50Hz
功率 / 重量
10KW / 600KG
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