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中安
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BTI-E3200(DSP/FPGA)
超大规模集成电路高温动态老化测试系统

满足各种封装形式的DSP、FPGA、CPLD、CPU等超大规模集成电路的高温动态老化和功能测试(TDBI),

同时满足一般数字集成电路的工作寿命试验和高温动态老化筛选。

系统单通道配置128路20MHz的双向可编程数字信号

同时兼容对被试器件的I/O并行端口测试、JTAC接口测试和BIST测试。

现已开发了包括TMS320CXXXX系列DSP,Xilinx、Altera、Lattice公司全系列

FPGA和CPLD器件的老化测试代码。



专用定制型设备

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