0571-85123400
中安
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BTI-T3300(Memory)
存储器集成电路高温动态老化测试系统
系统满足各种封装形式的FLASH、SRAM、DRAM(同步动态随机存储器)、
DDR(双倍速率SDRAM)、RDRAM等器件进行工作寿命试验和高温动态老炼
筛选,并且在老化过程中对被测器件DUT进行功能测试(TDBI)。
其特点有:
一、强大的存储器老化测试图形(Pattern)编辑能力;

二、老化全过程根据图形(Pattern)模式测试每个存储单元,并记录失效单元情况。



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