贴合AEC-Q101标准要求开发设计,
功能覆盖二极管、三极管、MOS管、IGBT单管等Si / SiC / GaN分立器件的间歇寿命试验IOL
和稳态寿命试验CFOL;系统可直观监测IOL试验全过程中每个DUT的△Tj。
K系数测试仪 →