0571-85123400
中安
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BTD-T810(IOL-△Tj测试)
分立器件间歇寿命试验系统IOL

该系统贴合AEC-101标准要求开发设计,功能覆盖了二极管、三极管、MOS管等分立器件的IOL试验,

系统可直观监测 IOL试验全过程中每个DUT的△Tj。


K系数测试仪


试验标准
产品特点
产品参数
风冷却试验腔
试验腔尺寸
60长度*30宽度*12.5高度(cm)
风道设计
水平横向风道设计;PWM风机控制;(可选配加热模块)
配置数量
16套
容量
试验通道
16个
单板工位数
24工位独立控制 / 80工位串联恒流 (独立检测△Tj)
整机容量
并联:384工位同时检测△Tj / 串联:1280工位同时检测△Tj
试验电源
试验电源数量
16台
试验电源量程
0-60V / 2400W 多款型号选择
驱动检测板
驱动板数量
16块
恒流源
单通道 设计4路20A恒流源输出,便于二极管的IOL试验(并联可达60A,可用于IGBT单管)
试验电压检测
范围:0.00V~99.9V;精度:±1%+0.01V
试验电流检测
二极管Id范围:0.1A~60.0A;三极管/MOS管 Id范围:0 mA~200.0mA;精度:1%+1LSB
Vf检测精度
±0.5mV
Tj结温测试
范围:20℃~175℃;精度:1%+1LSB
Im发生范围 / 精度
0~99.9mA ; ±1%+0.1mA
老化板
设计方式
通用母板(3种)+各种socket子板
老化座
老化座Socket均采用耐高温、抗氧化、耐疲劳材料
老化板尺寸
290*600(mm)
整机信息
尺寸
1730W*1150D*1900H(mm)
电网要求
A.C.380V±10% / 50Hz
功率 / 重量
15KW / 700kg
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