0571-85123400
中安
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BTD-E830(光电耦合器OC)
光电子器件老化系统/光电耦合器专用设备(OC)BTD-E830
产品参数
试验腔
型号
风冷却 试验腔 * 2个
试验腔尺寸
600*330*610(mm)
风道设计
水平横向循环风道设计
试验温度范围
室温
容量
独立试验区数量
标配4个(可增至8个区)
试验通道
16个
总容量
整机老化发光二极管时为1024个(串联时更多);整机老化光电耦合器时,单光耦为896个,双光耦为448个,四光耦为228个(串联时更多)
试验电源
试验电源数量
标配4台(可增至8台)
试验电源量程
20V/60A、30V/40A、40V/30A等
驱动检测板
驱动板数量
16块
试验电压检测
范围:0.0V~50.0V; 精度:±1%+0.1V
试验电流检测
范围:0.0mA~200.0mA;精度:±(1%+1LSB)
电子负载数量
单通道56路 / 整机896路
负载电流范围
0~200mA
老化板
基板材质
标配高Tg基板
老化座
老化座Socket均采用耐高温、抗氧化、耐疲劳材料
老化板尺寸
290*460(mm)
整机信息
尺寸
1300W*1200D*1900H(mm)
电网要求
A.C.220V±10% / 50Hz
功率 / 重量
8KW / 600KG
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