0571-85123400
中安
中安 中安
BTW-T580(T/R组件 定制型)
微波组件(T/R)射频老化系统

系统能满足额定试验功率在100W以下、壳温控制在40~100℃之间的各种封装尺寸的单通道/多通道TR组件射频稳态寿命试验及筛选。


老化试验线路采用恒流优先试验电路,老化夹具采取全屏蔽、防高低频振荡设计(要求外壳接地),不相互干扰,器件任意两极任何时刻开路、短路、漏电等均不应损坏器件和设备,也不影响其他器件正常试验。

系统为每个被试组件提供了多路现场可编程数字信号用于组件的波控;同时用户也可根据试验需求选配P/L/S/C/X/Ka/Ku等各个波段的点频信号源(VCO)、放大器与耦合检波器等微波模块。


专用定制型设备

更多详情请联系 



其他型号
了解中安
中安 研发&制造
中安 售后支持
中安 销售服务
中安电子微信公众号 中安
© 2009 - 2017 杭州中安电子版权所有 浙ICP备08112330号-1 | 网站建设翰臣科技